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SP25M 掃描測頭系統

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SP25M 掃描測頭系統
SP25M 直徑僅為 25 毫米,具有一系列掃描和接觸觸發模組,是世界上結構最緊湊、最具多樣性的掃描測頭系統。


SP25M 實際上是兩個量測頭合而為一! 有四個掃描模組(可以攜帶長度從 20 至 400 毫米不等的 M3 探針)和一個與 Renishaw 的 TP20 測頭模組系列相容的配接器模組供客戶選擇。 這個能力實現了在單個測頭系統中完成掃描和接觸觸發兩種量測。

SP25M 小型的結構並具有自動聯接固定座,可與 PH10M/MQ 和 PH6M 測頭固定座相容。 它還可以安裝在多線加長桿上。 這幾個優點組合起來,使系統具有極佳的伸展靈活性,可以到達工件的各個部位。

獨特的回轉設計提供卓越的動態性能,而三個掃描模組則設計在整個廣泛的探針長度範圍內優化掃描精度,避免像其他類型的掃描測頭一樣,性能隨探針長度的增加而降低。

由於使用 FCR25(靈活交換架),系統具有無比的模組和探針交換多樣性,FCR25 可以簡單地固定在 Renishaw MRS 系統上,也可以作為 3 或 6 埠獨立交換架款式。


 優點和特點  

世界上最小的掃描測頭
SP25M 的直 徑僅為 25 毫米(0.97 英寸),小巧輕便,非常適合安裝在鉸鏈座和最長 100 毫米(3.9 英寸)的延長桿上,具有無比的量測靈活 性。

極佳的計量學 — 獨立光計量學量測系統
Renishaw 的平行動作掃描測頭使用獨立光轉換,能夠‘就地’直 接量測,避免像傳統掃描系統中所用的‘塔式’掃描測頭一樣,在重疊量測軸上產生進一步的誤差。

三個模組使系統在整 個探針長度範圍內都具有最佳性能
有三種不同的探針模組可供 SP25M 使用,並可指定彈性率和增益以適合各種探針長度。 這使 SP25M 可以使用長度是測頭直 徑的 8 倍的探針進行精確的量測。

二量測頭合一 — 掃描和接觸觸發
SP25M 支援 接觸觸發式測頭量測和掃描。 TP20 測頭模組可以使用特別的模組裝配在 SP25M 測頭體上。

防碰撞保護和簡單的探針交換
Renishaw 掃描量測頭配備獨特的動態探針交換系統,能夠進行快速的探針交換並為掃描測頭提供防碰撞保護。

快速簡單的測頭校正循環
只需簡單的校正循環就可提供 ISO 10360 標準指定的精確測頭性能。

輪廓和形態量測的理想選擇
掃描系統設計用於快速擷取大量表面資料。 擷取的部位資訊越多,對其形狀也越瞭解,因此對其特定用途適用性也越瞭解。

沒有來自電機的熱浸,穩定性更 佳
Renishaw 掃描測頭不用電機驅動或鎖定測頭軸,因此沒有內部熱源。 ‘有源’塔式測頭內部有多達 6 個電機,將產生熱浸,如果要使熱浸不影響量測性能,必須量測並補償熱浸。

僅 Renishaw 公司提供安裝在鉸鏈座上的掃描測頭
Renishaw 公司的 SP25M 和 SP600M 掃描測頭可用在電動轉位測頭座上。 是世界上最靈活 、最快速的接觸掃描解決方案。

簡單而堅固的結構設計提高了可靠性
由於不用線性電機或鎖定機構,無源掃描測頭(例如 SP600、SP80 和 SP25M)出錯的可能性比‘有源’塔式測頭低。 因此壽命更 長,運行成本更 低。

複雜精密的三次冪多項補償
Renishaw 的掃描測頭校正方法可以同時解決測頭機構的線性和非線性特性問題。




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